主要特點(diǎn)

IST5700D型邏輯在線測(cè)試儀（美國）
本產(chǎn)品可對(duì)80線以下數(shù)字集成電路進(jìn)行在線測(cè)試，
主機(jī)配有相應(yīng)測(cè)試夾具及探筆.
本品為IST5700C換代產(chǎn)品。

產(chǎn)品區(qū)分

• 5700D-2具有兩個(gè)通道，可以同時(shí)接通兩個(gè)不同信號(hào)源。
• 5700D-4具有兩個(gè)通道，可以同時(shí)接通兩個(gè)不同信號(hào)源。

主要參數(shù)

適用范圍：
任何邏輯電路檢修，均可利用本機(jī)的"對(duì)比"功能，找出不良的原因。"對(duì)比"時(shí)要一個(gè)好的參考電路板，提供CLOCK，及RESET，以便檢修有微電腦控制的板子。
功能特點(diǎn)：
*兩個(gè)及四個(gè)測(cè)試夾子（80個(gè)輸入通道）可自由插拔。
*連續(xù)的即時(shí)邏輯狀態(tài)顯示，和高速的示波器界面。
*DIP，SOIC和LPCCICS界面
*顯著的"對(duì)比"功能 。
*被選擇的測(cè)試點(diǎn)可被存儲(chǔ)于備用的RAM上。測(cè)試即可手動(dòng)也可自動(dòng)。
*即時(shí)和非即時(shí)狀態(tài)下，都可進(jìn)行"對(duì)比"測(cè)試。
*相同時(shí)鐘脈沖下，連續(xù)復(fù)位線，可對(duì)微機(jī)主板進(jìn)行故障查尋。